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它还采用*的焦距距离计算办法(DCM)， 操作员现在可以随时改变焦距测量， 对一些形状复杂的工件尤其方便。

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FiScherSCOp® X—RAY SystemXDL® —B及XDLM® —C4是采用技术标准ASTM及B568，DIN60987， ISO3497的X一射线荧光分析法来进行测量， 下但可以测量金属层厚度及金属之间的比重， 还可以进行金属物料分析。